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西安精密仪表制造有限公司
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ICT33C数字集成电路测试仪

产品基本规格
产品规格:
产品商标:
更新时间:
2004-6-11 0:00:00
生产产地:
北京
价格说明:
价优
 图片:
 详细说明:

   器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。 
器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 
器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 
器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。 
内部RAM数据修改:ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 
EPROM、EEPROM器件读入:ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 
EPROM、EEPROM器件写入:ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中,并自动校验。