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西安精密仪表制造有限公司
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BJ3140数字集成电路测试仪系列

产品基本规格
产品规格:
产品商标:
更新时间:
2004-6-11 0:00:00
生产产地:
北京
价格说明:
价优
 图片:
 详细说明:

   测试对象 TTL、CEL、COMS、NMOS及其他类型的MSI/LSI器件,包括微处理器、微控制器、配套的外围品件、静态及动态RAM、PROM、EPROM和一定范围内的集成电路。 测试功能 真值表功能测试,直流参数测试 适用范围 1.半导体器件生产厂家的生产测试(中测和成测) 2.整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。 *测试速率:2MHz  *测试通道数:48 *接口:具有计算机通用外设接口,串行R232通信接口,IEE-488仪器接口,自动中测台、自动上料器接口。