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针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以测量镀层厚度
ROHS指令检测主要技术指标
※. 分析精度：0.05%
※. 样品室尺寸：1000*1000*300MM
※. 测量时间：60-300秒
※. 工作电源：220U±5U
※. 高 压：15-50KV
※. 管 流：600μA
※. 计数率：1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析
仪器基本配置
※.单样品腔
※.计算机、喷墨打印机
※.硅针半导体探测器
※.硅针半导体探测器
※.放大电路
※.高低压电源
※.X光管
※.无真空腔体 | 
