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JW-K型孔径分布及比表面积测定仪

产品基本规格
公司名称 北京市精微高博科技开发中心
产品规格:
产品商标:
精微高博
更新时间:
2007-6-12 0:00:00
生产产地:
北京
价格说明:
查看联系方式>> 北京市精微高博科技开发中心
 
 图片:
JW-K型孔径分布及比表面积测定仪
JW-K型孔径分布及比表面积测定仪详细说明:

     许多超细粉体材料的表面是不光滑的,甚至是多孔的,而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系,因此,除了测定比表面外,测定粉体材料表面微孔的孔径分布亦具有重要意义。精微高博公司是比表面积及孔径分布测定仪专业生产厂家
氮吸附法测定比表面及孔径分布都是利用氮的等温吸附特性:在液氮温度下,氮分子在材料表面的物理吸附量取决于氮气的相对压力P/P0,其中P为氮气分压,P0为液氮温度时氮的饱和蒸气压,当P/P0在0.05~0.35范围时,吸附量与P/P0符合BET方程,以此为基础,成为比表面测定的依据;当P/P0≥0.4时,由于产生了毛细凝聚现象,吸附量与表面微孔的尺寸相关,以此为基础,则成为测定孔径分布的依据。

 
 
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